彩票联盟注册

感受3D体验，Sensofar 3D光学轮廓仪，为您展现全新的ㄨ3D立体形貌

全新设计的3D光学轮廓仪S neox颠覆传统，将共聚焦、干涉和多焦面叠加技术融于一身，测量头内无运动部件。

全自动光学轮廓仪S neox能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够○满足广泛的高端形貌,测量应用。Sensofar的核心是将3种测量方式融于体，确保︽了其卓越的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获〖得难以置信的直观操作体验。

SENSOFAR公司作为共聚焦干涉显微镜的发明者，开创性地将共聚焦和干涉技术结合在起，无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切换。使客户无需花费高昂的费用▆就能同时拥有共聚焦显ㄨ微镜和干涉仪。

SENSOFAR在1999年创立之初，就是以三维表面形貌测量为主要研发方向，通过持续不断地研发和申请利技术，在全球范♂围内创造了数百种表面形貌测量应用产品，积累了丰富的技术实力。

一、产品特点及优势

1. 共聚焦模式

共聚焦技术可以用来测量各类样品表※面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.10um.利用它可以实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜︾头时，共聚〗焦在光滑表面测量斜率达70°（粗糙表面达86°）。

共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳々米范畴。

2. 相位差干涉模式

相位差干涉是一种亚纳米级精度的用于测量光滑◤表面高度形貌的技术。它的优势在于任何放大倍■数都可以保证亚纳米级的纵向分辨率。使用2.5倍的镜头就能实现超高纵向分辨率的大视□场测量。

3. 白光干涉干涉模式

白光干涉是一种纳米级测量精度的用于测量各种表面高度形貌的技术。它的优势在于□　任何放大倍数都可以保证纳米级的纵向分辨率。

4. 多焦面叠加模式

多焦面叠加技术是用来测量非常→粗糙的表面形貌。根据我们在共聚焦和干涉技术融合应用方面的丰↓富经验，特别设计了此功能来补▲足低倍共聚焦测量的需要。该技术的最大亮点是快速(mm/s)、扫描范围大和支『援斜率大(最大86°)。此功能对工∏件和模具测量特别有用。

5. 真彩色共聚焦图像

每个像素⌒　点都能还原真实的色彩。在扫▓描时红、绿、蓝三色LED交替照明，并将三张单色的图片还原成一幅高分辨率的彩色图像。相比其他∮品牌采用像素插值算法，S neox用这种技术获得的图片色彩保真度和还原性更胜一筹。

6. 3D形貌的最新体ㄨ验

超清晰的〖细节，用高分辨率的摄像头将共聚焦的图像精彩ぷ呈现

7. 超清晰的◥细节〓

将纳米↑世界呈现给您，用高分辨率的摄像头将共聚焦的图像精彩呈现。

8. 多样的配↑置方案-平台尺寸（从4寸到12寸）

标准尺寸支架：

超大尺寸支架：

二、应用实例

新型 S neox 在性能、功能、效 率和设∩计方面优于现有的 3D光 学轮廓仪，是Sensofar 的新一 代高端测量系统。

前所未有的速度

通过＠ 采用新的智能和独特的算法以及新型相◆机，达到前所未有的速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以◆前快 5 倍。S neox 成为市场上速度最快的表面测量系统。

易于使用

Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第︻五代 S neox 系√统的诞生，我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即◢使是初学者，只★需点击一下，即可操作测量。模▂块化设计的软件，使系统适应用户多样ξ的需求。

功能灵活多样

1、质量管理

丰富的自动化模块，方々便进行质
量管控。从操作员访问权限控制、测量程序存储、兼容性到条形码/QR 读取器，以及我们专☉有 SensoPRO 软件中的定制插件，都可以自动生成分析报告。我们的优化解决方◥案能够在↘ QC 环境中工作，其具有灵活性和易于使用的界面，可编程并24小时工作。

2、研发

Sensofar 的三↘合一方法—只需点▓击一次，系统即可切换到适合当前测量任务的最佳技术。在 S neox 传感器头中配置三◣种测量技术—共聚焦、干涉、Ai 多焦面叠加—这些都为系统的多功能性做出了重要贡献，并有助于最大限度地减少数据采集中的噪点。S neox 是所有实验室环境的理想之★选,适用范围广泛。