S wide 是专用系统,适用于快速测量ㄨ大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有♀集成了数字显微镜的高分辨率测量◣仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。
- 先进制造业
- 考古学与古生物√学
- 消费类电子产品
- 医疗设备
- 模塑
- 光学
- 钟表业
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量□ 结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
我们的所有系统】精心制造,提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列◥参数的指南的可追溯标准进行校准:Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度█。
新型 S neox 在性能、功能、效 率和设计方面优于现有的 3D光 学轮廓仪,是Sensofar 的新一 代高端测量系统≡。
前所未有的速度
通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机,达到前所未有的速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以前快 5 倍。S neox 成为市场╳上速度最快的表面测量系统。
易于使用
Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 系统♀的诞生,我们的目标是使其易于使用、直观且更快★速。即使是初学者,只需点击一下,即可操作测∮量。模块化设计的软件,使系统适应用㊣户多样的需求。
功能灵活多样
1、质量管理
丰富←的自动化模块,方便进行质
量管控。从⊙操作员访问权限控制、测量程序存储、兼容性到条@形码/QR 读取器,以及我们专〒有 SensoPRO 软件中的定制插件,都可以自动生成分☆析报告。我们的优化解决方案能够在 QC 环境◣中工作,其具有灵活性和易于使用的界面,可编程并24小时工作。
2、研发
Sensofar 的三合一方法—只↘需点击一次,系统即可切换到适合当前测量任务的最佳技术〇。在 S neox 传感器头中配置三种测量技术▲—共聚焦、干涉、Ai 多焦面叠加—这些都为系统的多功能▃性做出了重要贡献,并有助于最ξ大限度地减少数据采集中的噪点。S neox 是所有实验室环境的理想之选,适用范围广泛。